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上海儀電分析將參加第68屆美國(guó)匹茲堡實(shí)驗(yàn)室展會(huì)

點(diǎn)擊: 次 時(shí)間:2017-03-03 10:37

 3月6日起,上海儀電分析將攜手科學(xué)儀器共赴美國(guó)匹茲堡參加2017年度的第68屆美國(guó)匹茲堡實(shí)驗(yàn)室展分析儀器展及科學(xué)儀器展(PITTCON 2017 CONFERENCE &EXPO)。

   展會(huì)地點(diǎn):2301 S.KingDrive.Chicago,Illinois,USA 60616

   展館信息:West Hall,McCormickPlace

   展會(huì)時(shí)間:3月6日_3月9日(9:00-17:00)

   展位號(hào):儀電分析:4507,儀電科學(xué):4506

屆時(shí)我司將展出L9\L7\L6S\N4S分光光度計(jì)系列和FP6410火焰光度計(jì)等最近儀器,恭候光臨。

     

L9雙光束紫外可見(jiàn)分光光度計(jì) 
    
L6S紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)

N4S紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)  
                          
FP6410火焰光度計(jì)

(內(nèi)容來(lái)源上分官網(wǎng))



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